Ponencia
Determinación del coeficiente de resolución en biestables RS CMOS
Autor/es | Bellido Díaz, Manuel Jesús
Valencia Barrero, Manuel Acosta Jiménez, Antonio José Barriga Barros, Ángel |
Departamento | Universidad de Sevilla. Departamento deTecnología Electrónica Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo |
Fecha de publicación | 1992 |
Fecha de depósito | 2018-09-14 |
Publicado en |
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Resumen | El diseño de biestables con riesgo de metaestabilidad requiere que posean coeficientes de resolución adecuados. En este trabajo, se introducen dos métodos para su medida y se comparan con otro previamente reportado. Uno ... El diseño de biestables con riesgo de metaestabilidad requiere que posean coeficientes de resolución adecuados. En este trabajo, se introducen dos métodos para su medida y se comparan con otro previamente reportado. Uno de nuestros métodos mejora en dos órdenes de magnitud los tiempos de medida. |
Cita | Bellido Díaz, M.J., Valencia Barrero, M., Acosta Jiménez, A.J. y Barriga Barros, Á. (1992). Determinación del coeficiente de resolución en biestables RS CMOS. En VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados (509-510), Toledo (España): Universidad Politécnica de Madrid. Laboratorio de Sistemas Integrados. |
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