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Computer Integrated Manufacturing in Semiconductor Industry. Automation, Electronic Wafer Mapping, Defect Reduction and Equipment Utilization Improvement in Probe and Final Test

Opened Access Computer Integrated Manufacturing in Semiconductor Industry. Automation, Electronic Wafer Mapping, Defect Reduction and Equipment Utilization Improvement in Probe and Final Test
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Autor: Moreno Lizaranzu, Manuel José
Director: Cuesta Rojo, Federico
Fecha: 2012
Tipo de documento: Tesis Doctoral
Resumen: La industria de semiconductores presenta arduos problemas en ... Dispositivos para la industria del automóvil y médica deben tener una tasa de defectos muy baja. Pruebas eléctricas e inspecciones visuales se aplican para detectar dispositivos defectuosos

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URI: http://hdl.handle.net/11441/15246

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