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Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixta

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Autor: Barragán Asián, Manuel José
Director: Vázquez García de la Vega, Diego
Departamento: Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo
Fecha: 2009
Tipo de documento: Tesis Doctoral
Resumen: En la actualidad, la rápida evolución de la capacidad de integración en tecnologías CMOS ha llevado a la industria de los circuitos integrados hacia sistemas complejos en los que coexisten bloques analógicos con componentes digitales [1]. Esto ha dado lugar a los, así llamados, SoCs (Sistemas on-chip, Systems on-Chip) en los que un sistema completo, compuesto de subsistemas analógicos, digitales y de señal mixta, es integrado sobre un mismo sustrato. Debido a este incremento en la complejidad, y a las restricciones de acceso a los nodos internos propias de los circuitos integrados, la labor de testar este tipo de sistemas se ha convertido en una componente importante en el coste de producción de un circuito integrado [2]-[5]. Coste que, además, no escala con el volumen de producción, como sería el caso, por ejemplo, de los equipos de test. Además, el problema del testado se complica a medida que crece la complejidad de la parte analógica del chip.Tanto es así que el test se está convi...
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URI: http://hdl.handle.net/11441/24086

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