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Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos

 

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Author: Vázquez García de la Vega, Diego
Director: Rueda Rueda, Adoración
Huertas Díaz, José Luis
Department: Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo
Universidad de Sevilla. Departamento de Contabilidad y Economía Financiera
Date: 1995
Document type: Doctoral Thesis
Cite: Vázquez García de la Vega, D. (1995). Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla.
Size: 10.97Mb
Format: PDF

URI: http://hdl.handle.net/11441/15705

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