PhD Thesis
Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos
| dc.contributor.advisor | Rueda Rueda, Adoración | es |
| dc.contributor.advisor | Huertas Díaz, José Luis | es |
| dc.creator | Vázquez García de la Vega, Diego | es |
| dc.date.accessioned | 2014-11-27T12:01:43Z | |
| dc.date.available | 2014-11-27T12:01:43Z | |
| dc.date.issued | 1995 | es |
| dc.identifier.citation | Vázquez García de la Vega, D. (1995). Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11441/15705 | |
| dc.format | application/pdf | es |
| dc.language.iso | spa | es |
| dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España | |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | |
| dc.subject | Cálculo tolerante a fallos | es |
| dc.subject | Circuitos electrónicos | es |
| dc.title | Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos | es |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | es |
| dcterms.identifier | https://ror.org/03yxnpp24 | |
| dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.contributor.affiliation | Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo | es |
| dc.contributor.affiliation | Universidad de Sevilla. Departamento de Contabilidad y Economía Financiera | es |
| idus.format.extent | 273 p. | es |
| dc.identifier.idus | https://idus.us.es/xmlui/handle/11441/15705 |
| Files | Size | Format | View | Description |
|---|---|---|---|---|
| H_T.S.-122.pdf | 10.97Mb | 
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