PhD Thesis
Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos
| Author/s | Vázquez García de la Vega, Diego
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| Director | Rueda Rueda, Adoración
Huertas Díaz, José Luis |
| Department | Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo Universidad de Sevilla. Departamento de Contabilidad y Economía Financiera |
| Publication Date | 1995 |
| Deposit Date | 2014-11-27 |
| Citation | Vázquez García de la Vega, D. (1995). Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. |
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| H_T.S.-122.pdf | 10.97Mb | 
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http://hdl.handle.net/11441/15705This item appears in the following collection(s)
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