Trabajo Fin de Grado
Estudio de los efectos de la radiación en memorias flash y DACs
Autor/es | Páez Gómez, Luis |
Director | Coronetti, Andrea
Muñoz Chavero, Fernando |
Departamento | Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería Electrónica |
Fecha de publicación | 2024 |
Fecha de depósito | 2024-05-28 |
Titulación | Universidad de Málaga y Sevilla. Grado en Ingeniería Electrónica, Robótica y Mecatrónica |
Resumen | El estudio de la variabilidad en la respuesta ante la radiación de componentes electrónicos procedentes de diversos lotes, junto con las metodologías asociadas para garantizar su funcionamiento, constituye un proyecto ... El estudio de la variabilidad en la respuesta ante la radiación de componentes electrónicos procedentes de diversos lotes, junto con las metodologías asociadas para garantizar su funcionamiento, constituye un proyecto financiado por la ESA y el CERN, siendo este último responsable de su ejecución. Este trabajo se desarrolla dentro de este proyecto que se centra en dispositivos comerciales (COTS) e investiga su resistencia a la radiación para aplicaciones espaciales. El propósito de este trabajo es recopilar información sobre la variabilidad del comportamiento de una memoria flash y un DAC ante radiación, específicamente ante eventos singulares (SEE) y dosis ionizantes (TID). Los componentes que serán objeto de estudio se encuentran principalmente en aplicaciones del CERN, en concreto en el entorno del acelerador de partículas. En el contexto de este proyecto, con el objetivo de caracterizar estos dos IC, el trabajo se ha dividido en tres partes: • Desarrollo de placas para tests, así como desarrollo de una interfaz para la caracterización de SEE/TID con el detector de eventos singulares. • Participación y seguimiento de tests de radiación en CERN-ESA. • Análisis de los resultados. Exploring device radiation variability and related assurance methodologies through large batch procurements is an ESA co-financed project that CERN is in charge of and that was financed under the ESA-OSIP program. This ... Exploring device radiation variability and related assurance methodologies through large batch procurements is an ESA co-financed project that CERN is in charge of and that was financed under the ESA-OSIP program. This work develops within this project which focuses on commercial-off-the-shelf (COTS) devices and investigates their resilience to radiation for space applications. The purpose of this work is to gather information about the variability in the behavior of a flash memory and a DAC (digital-to-analog converter) under radiation, specifically single event effects (SEE) and total ionizing dose (TID). These components under study are primarily found in CERN applications, particularly within the particle accelerator environment. Within the scope of this project, aiming to characterize these two IC, the work has been divided into three parts: • Development of test boards and an interface for the characterization of SEE/TID effects with the single event detector. • Participation and follow-up of radiation tests at CERN-ESA • Analysis of the results. |
Cita | Páez Gómez, L. (2024). Estudio de los efectos de la radiación en memorias flash y DACs. (Trabajo Fin de Grado Inédito). Universidad de Sevilla, Sevilla. |
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