Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos

dc.contributor	Universidad de Sevilla
dc.creator	Carballar Rincón, Alejandro
dc.creator	Janer Jiménez, Carlos
dc.date.accessioned	2022-11-04T09:56:05Z
dc.date.available	2022-11-04T09:56:05Z
dc.date.issued	2013-05-28
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/11441/138871
dc.description.abstract	Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz (101, 401, 501), un montaje interero
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Oficina Española de Patentes y Marcas
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.title	Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos
dc.type	info:eu-repo/semantics/patent
dcterms.identifier	https://ror.org/03yxnpp24
dc.type.version	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Ingeniería Electrónica
dc.relation.publisherversion	https://consultas2.oepm.es/InvenesWeb/detalle?referencia=P201101161
dc.type.resourcetype	Patente
dc.identifier.patentnumber	ES2404673B2

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