Patent
Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos
Inventor | Carballar Rincón, Alejandro
Janer Jiménez, Carlos |
Department | Universidad de Sevilla. Ingeniería Electrónica |
Management Entity | Oficina Española de Patentes y Marcas |
Patent No. | ES2404673B2 |
Owner entity | Universidad de Sevilla |
Grant date | 2013-05-28 |
Deposit Date | 2022-11-04 |
Abstract | Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz ... Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz (101, 401, 501), un montaje interero |
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