Patente
Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos
Inventor | Carballar Rincón, Alejandro
Janer Jiménez, Carlos |
Departamento | Universidad de Sevilla. Ingeniería Electrónica |
Entidad de Gestión | Oficina Española de Patentes y Marcas |
Nº Patente | ES2404673B2 |
Entidad titular | Universidad de Sevilla |
Fecha de concesión | 2013-05-28 |
Fecha de depósito | 2022-11-04 |
Resumen | Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz ... Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz (101, 401, 501), un montaje interero |
Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
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file_1.pdf | 1.740Mb | [PDF] | Ver/ | |