Patente
Procedimiento adaptativo de calibración dígital concurrente del offset en comparadores en convertidores analógico-digitales (adcs).
Inventor | Ginés Arteaga, Antonio José
![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() Peralías Macías, Eduardo José Rueda Rueda, Adoración |
Departamento | Universidad de Sevilla. Electrónica y Electromagnetismo |
Entidad de Gestión | Oficina Española de Patentes y Marcas |
Nº Patente | ES2373282B1 |
Entidad titular | Universidad de Sevilla|Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) |
Fecha de concesión | 2012-02-02 |
Fecha de depósito | 2022-11-04 |
Resumen | El objeto de la presente invención es un procedimiento adaptativo para la calibración del offset de comparadores en convertidores analógico-digitales (ADCs). La técnica que implementa permite ajustar mediante un control ... El objeto de la presente invención es un procedimiento adaptativo para la calibración del offset de comparadores en convertidores analógico-digitales (ADCs). La técnica que implementa permite ajustar mediante un control digital de bajo coste la tensión um |
Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
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file_1.pdf | 2.334Mb | ![]() | Ver/ | |
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