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Ponencia

dc.creatorTan, H.es
dc.creatorBeltrán, Ana M.es
dc.creatorMarch, K.es
dc.creatorMortet, Vincentes
dc.creatorBedel-Pereira, Elénaes
dc.creatorCristiano, Fuccioes
dc.creatorStrenger, C.es
dc.creatorBauer, A.J.es
dc.creatorSchamm-Chardon, Sylviees
dc.date.accessioned2018-02-23T07:13:44Z
dc.date.available2018-02-23T07:13:44Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationTan, H., Beltrán, A.M., March, K., Mortet, V., Bedel-Pereira, E., Cristiano, F.,...,Schamm-Chardon, S. (2014). MS-3-P-5702 Nanoanalytical investigations at the interface of 4H-SiC/SiO2 MOSFETs [Póster]. En 18th International Microscopy Congress (1-3), Prague (Czech Republic): Czechoslovak Microscopy Society.
dc.identifier.isbn978-80-260-6720-7es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11441/70540
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isoenges
dc.publisherCzechoslovak Microscopy Societyes
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/*
dc.titleMS-3-P-5702 Nanoanalytical investigations at the interface of 4H-SiC/SiO2 MOSFETs [Póster]es
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dcterms.identifierhttps://ror.org/03yxnpp24
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transportees
dc.relation.publisherversionhttp://microscopy.cz/proceedings.htmles
dc.contributor.groupUniversidad de Sevilla. TEP123: Metalurgia e Ingeniería de los Materialeses
idus.format.extent3 p.es
dc.publication.initialPage1es
dc.publication.endPage3es
dc.eventtitle18th International Microscopy Congresses
dc.eventinstitutionPrague (Czech Republic)es
dc.relation.publicationplacePrague (Czech Republic)es
dc.identifier.sisius20819181es

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