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Listar Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM) por autor "Gontard, Lionel C."
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Artículo
A Rad-hard On-chip CMOS Charge Detector with High Dynamic Range
Saenz-Noval, Jorge J.; Leñero Bardallo, Juan Antonio; Carmona Galán, Ricardo; Gontard, Lionel C. (Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2023)This article introduces a CMOS charge detector tailored for measuring ionizing radiation in a wide range of fluences. It ...