root.skip-to-content
Comunidades
Todo idUS
Estadísticas
Sobre idUS
Español
English
Iniciar sesión
Iniciar sesión
¿Nuevo Usuario? Regístrate.
¿Has olvidado tu contraseña?
Inicio
Investigación
Ciencias
Física Aplicada I
Artículos (Física Aplicada I)
Nanometric resolution in glow discharge optical emission spectroscopy and Rutherford backscattering spectrometry depth profiling of metal (Cr, Al) nitride multilayers
