Ponencia
EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices
Autor/es | Castro, Celia
Andreozzi, A. Benassayag, G. Beltrán, Ana M. Seguini, G. Perego, M. Schamm-Chardon, Sylvie |
Departamento | Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte |
Fecha de publicación | 2012 |
Fecha de depósito | 2018-01-22 |
Resumen | We investigated for the first time the capabilities of combining Si NCs fabrication methods like e-beam evaporation and ULE-IBS with block copolymers nanostructured masks. |
Cita | Castro, C., Andreozzi, A., Benassayag, G., Beltrán, A.M., Seguini, G., Perego, M. y Schamm-Chardon, S. (2012). EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices. En 15th European Microscopy Conference Manchester (Gran Bretaña): The Royal Microscopical Society. |
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