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Ponencia

dc.creatorJiménez Moreno, Gabriel
dc.creatorFrutos Rayego, Fabián
dc.creatorGonzález Elipe, Agustín Rodríguez
dc.creatorAmaya Rodríguez, Claudio Antonio
dc.creatorSevillano Ramos, José Luis
dc.creatorAcedo García, Miguel
dc.creatorJiménez Marín, Alfonso
dc.creatorDíaz del Río, Fernando
dc.date.accessioned2016-02-08T11:02:59Z
dc.date.available2016-02-08T11:02:59Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.citationJiménez Moreno, G., Frutos Rayego, F., González Elipe, A.R., Amaya Rodríguez, C.A., Sevillano Ramos, J.L., Acedo García, M.,...,Díaz del Rio, F. (2001). Function generator to study the dielectric breakdown in thin film structures. IEEE.
dc.identifier.isbn0-7803-6352-3es
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11441/34281
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isoenges
dc.publisherIEEEes
dc.relation.ispartof2001 IEEE 7th International Conference on Solid Dielectrics, 311-314, June 25-29,2001, Eindhoven, the Netherlandses
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/*
dc.titleFunction generator to study the dielectric breakdown in thin film structureses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dcterms.identifierhttps://ror.org/03yxnpp24
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Física Aplicada Ies
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Arquitectura y Tecnología de Computadoreses
dc.relation.publisherversionhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=955636es
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1109/ICSD.2001.955636es
dc.identifier.idushttps://idus.us.es/xmlui/handle/11441/34281

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