PhD Thesis
Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico
Author/s | Respaldiza Galisteo, Miguel Ángel |
Director | Madurga Lacalle, Gonzalo |
Department | Universidad de Sevilla. Departamento de Física Atómica, Molecular y Nuclear |
Publication Date | 1986 |
Deposit Date | 2014-11-27 |
Abstract | El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo ... El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo por el método de Pixe (Particle Induced X-Ray Emission). Después de revisar el conocimiento actual del proceso de producción de rayos X y la bibliografía relativa a las fuentes de datos necesarios para el análisis se ha descrito el instrumental utilizado dedicando especial atención a algunos aspectos de optimización. Se ha estudiado en profundidad las dificultades que se presentan al determinar la concentración de si de aleaciones al/si debido al agrupamiento en granos de dicho elemento proponiéndose una estrategia simple basada en un estudio teórico mediante un modelo sencillo consistente en el análisis a dos energías diferentes de los protones y que permite obtener resultados aceptables de dichas concentraciones. Se han analizado los elementos traza de cristales de Omg y Be dedicándose especial atención a determinar las condiciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones de PPM. |
Citation | Respaldiza Galisteo, M.Á. (1986). Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. |
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H_T.S.-059.pdf | 6.548Mb | [PDF] | View/ | |
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