An approach for Model-Driven test generation

Gutiérrez Rodríguez, Javier Jesús; Escalona Cuaresma, María José; Mejías Risoto, Manuel; Ramos Román, Isabel; Torres Valderrama, Jesús

doi:10.1109/RCIS.2009.5089294

Ponencia

dc.creator	Gutiérrez Rodríguez, Javier Jesús	es
dc.creator	Escalona Cuaresma, María José	es
dc.creator	Mejías Risoto, Manuel	es
dc.creator	Ramos Román, Isabel	es
dc.creator	Torres Valderrama, Jesús	es
dc.date.accessioned	2017-03-22T11:35:26Z
dc.date.available	2017-03-22T11:35:26Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Gutiérrez Rodríguez, J.J., Escalona Cuaresma, M.J., Mejías Risoto, M., Ramos Román, I. y Torres Valderrama, J. (2009). An approach for Model-Driven test generation. En RCIS 2009 : Third IEEE International Conference on Research Challenges in Information Science (303-312), Fez, Morocco: IEEE Computer Society.
dc.identifier.isbn	978-1-4244-2864-9	es
dc.identifier.issn	2151-1349	es
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11441/56111
dc.description.abstract	The test phase is one of the most important phases in software development. However, in practice, little research has been carried out in this field. Model-Driven Engineering is a new paradigm that can help to minimize test cases generation costs and can ensure quality of results. This paper presents the application of the MDE paradigm in the systematic, even automatic, generation of System Test Software.	es
dc.description.sponsorship	Ministerio de Educación y Ciencia TIN2007-67843-C06 03	es
dc.description.sponsorship	Ministerio de Educación y Ciencia TIN2007-30391-E	es
dc.format	application/pdf	es
dc.language.iso	eng	es
dc.publisher	IEEE Computer Society	es
dc.relation.ispartof	RCIS 2009 : Third IEEE International Conference on Research Challenges in Information Science (2009), pp. 303-312.
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.subject	Model-Driven Engineering	es
dc.subject	Test generation	es
dc.title	An approach for Model-Driven test generation	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	es
dcterms.identifier	https://ror.org/03yxnpp24
dc.type.version	info:eu-repo/semantics/submittedVersion	es
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess	es
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Lenguajes y Sistemas Informáticos	es
dc.relation.projectID	TIN2007-67843-C06 03	es
dc.relation.projectID	TIN2007-30391-E	es
dc.relation.publisherversion	http://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/5089294/	es
dc.identifier.doi	10.1109/RCIS.2009.5089294	es
dc.contributor.group	Universidad de Sevilla. TIC021: Ingeniería Web y Testing Temprano (IWT2)	es
idus.format.extent	9	es
dc.publication.initialPage	303	es
dc.publication.endPage	312	es
dc.eventtitle	RCIS 2009 : Third IEEE International Conference on Research Challenges in Information Science	es
dc.eventinstitution	Fez, Morocco	es
dc.relation.publicationplace	USA	es
dc.contributor.funder	Ministerio de Educación y Ciencia (MEC). España

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05089294.pdf	247.8Kb	[PDF]	Ver/Abrir

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