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Tesis Doctoral
Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico
dc.contributor.advisor | Madurga Lacalle, Gonzalo | es |
dc.creator | Respaldiza Galisteo, Miguel Ángel | es |
dc.date.accessioned | 2014-11-27T12:04:31Z | |
dc.date.available | 2014-11-27T12:04:31Z | |
dc.date.issued | 1986 | es |
dc.identifier.citation | Respaldiza Galisteo, M.Á. (1986). Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11441/15760 | |
dc.description.abstract | El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo por el método de Pixe (Particle Induced X-Ray Emission). Después de revisar el conocimiento actual del proceso de producción de rayos X y la bibliografía relativa a las fuentes de datos necesarios para el análisis se ha descrito el instrumental utilizado dedicando especial atención a algunos aspectos de optimización. Se ha estudiado en profundidad las dificultades que se presentan al determinar la concentración de si de aleaciones al/si debido al agrupamiento en granos de dicho elemento proponiéndose una estrategia simple basada en un estudio teórico mediante un modelo sencillo consistente en el análisis a dos energías diferentes de los protones y que permite obtener resultados aceptables de dichas concentraciones. Se han analizado los elementos traza de cristales de Omg y Be dedicándose especial atención a determinar las condiciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones de PPM. | es |
dc.format | application/pdf | es |
dc.language.iso | spa | es |
dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | |
dc.subject | Espectroscopia de rayos x | es |
dc.title | Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico | es |
dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | es |
dcterms.identifier | https://ror.org/03yxnpp24 | |
dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.contributor.affiliation | Universidad de Sevilla. Departamento de Física Atómica, Molecular y Nuclear | es |
dc.identifier.idus | https://idus.us.es/xmlui/handle/11441/15760 |
Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
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H_T.S.-059.pdf | 6.548Mb | [PDF] | Ver/ | |
H_T.S.-050.pdf | 6.340Mb | [PDF] | Ver/ | |