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Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico

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Autor: Respaldiza Galisteo, Miguel Ángel
Director: Madurga Lacalle, Gonzalo
Fecha: 1986
Tipo de documento: Tesis Doctoral
Resumen: El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo por el método de Pixe (Particle Induced X-Ray Emission). Después de revisar el conocimiento actual del proceso de producción de rayos X y la bibliografía relativa a las fuentes de datos necesarios para el análisis se ha descrito el instrumental utilizado dedicando especial atención a algunos aspectos de optimización. Se ha estudiado en profundidad las dificultades que se presentan al determinar la concentración de si de aleaciones al/si debido al agrupamiento en granos de dicho elemento proponiéndose una estrategia simple basada en un estudio teórico mediante un modelo sencillo consistente en el análisis a dos energías diferentes de los protones y que permite obtener resultados aceptables de dichas concentraciones. Se han analizado los elementos traza de cristales de...
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URI: http://hdl.handle.net/11441/15760

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