Listar Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM) por autor 

Listar Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM) por autor "Nafria, M."  

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      A detailed study of the gate/drain voltage dependence of RTN in bulk pMOS transistors 

      Saraza Canflanca, Pablo; Martin Martinez, J.; Martín Martínez, J.; Castro López, Rafael; Roca Moreno, Elisenda; Rodríguez, R.; Nafria, M.; Fernández Fernández, Francisco Vidal (Elsevier, 2019)
      Random Telegraph Noise (RTN)has attracted increasing interest in the last years. This phenomenon introduces variability ...