Impacto de la variabilidad dependiente del tiempo en circuitos integrados en tecnologías nanométricas: modelado, simulación y caracterización experimental

Español
English

Iniciar sesión

¿Nuevo Usuario? Regístrate. ¿Has olvidado tu contraseña?

Inicio
Investigación
Ciencias
Electrónica y Electromagnetismo
Tesis (Electrónica y Electromagnetismo)
Impacto de la variabilidad dependiente del tiempo en circuitos integrados en tecnologías nanométricas: modelado, simulación y caracterización experimental