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Ponencia

dc.creatorAcedo García, Miguel
dc.creatorFrutos Rayego, Fabián
dc.creatorTorres Subiela, Miguel
dc.creatorFilippini, Jean César
dc.date.accessioned2016-02-08T08:57:25Z
dc.date.available2016-02-08T08:57:25Z
dc.date.issued1995
dc.identifier.isbn0-7803-2040-9es
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11441/34255
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isoenges
dc.publisherIEEEes
dc.relation.ispartofProceedings of the 1995 IEEE 5th International Conference on Conduction and Breakdown in Solid Dielectrics, 661-665, 1995. ICSD'95es
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/*
dc.titleThe Cylindrical Capacitive Model for Water Treeing Degradation in Extruded HV Cableses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dcterms.identifierhttps://ror.org/03yxnpp24
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Física Aplicada Ies
dc.relation.publisherversionhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=523069es
dc.identifier.doihttp://dx.doi.org/10.1109/ICSD.1995.523069es
dc.identifier.idushttps://idus.us.es/xmlui/handle/11441/34255

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