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ListarArtículos (Tecnología Electrónica) por materia "Mean time between failures"

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      Analysis of Metastable Operation in a CMOS Dynamic D-Latch 

      Juan Chico, Jorge; Bellido Díaz, Manuel Jesús; Acosta Jiménez, Antonio José; Valencia Barrero, Manuel; Huertas Díaz, José Luis (Springer, 1997)
      Nowadays, metastability is becoming a serious problem in high-performance VLSI design, mainly due to the relatively-high ...