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Patente
Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos
(Oficina Española de Patentes y Marcas , 2013-05-28)
Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz ...
Artículo
Photosensitivity Color-Center Model for Ge-Doped Silica Preforms
(Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013)
A new photosensitivity physical model for Ge-doped silica preforms based on color-center photoreactions is presented. Simulation results are in close agreement with experimental results obtained by several condensed ...