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ListarInstituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM) por materia "Scintillation light spot dispersion"
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Artículo
A CMOS Digital SiPM With Focal-Plane Light-Spot Statistics for DOI Computation
(Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017)Silicon photomultipliers can be used to infer the depth-of-interaction (DOI) in scintillator crystals. DOI can help to ...