Listar Ponencias (Física Aplicada I) por materia 

ListarPonencias (Física Aplicada I) por materia "Depth profiling"

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      Depth-selective 2D-ACAR studies on low-k dielectric thin films 

      Eijt, S.W.H.; Veen, A. van; Falub, Claudiu V.; Escobar-Galindo, Ramón; Schut, Henk; Mijnarends, P.E.; Theije, Fremke de; Balkenende, A.R. (ScienceDirect, 2003)
      Depth-selective 2D-ACAR investigations on ordered mesoporous silica thin films provide direct evidence that para-positronium ...