Topological Homogeneity for Electron Microscopy Images

Molina Abril, Helena; Díaz del Río, Fernando; Guerrero Lebrero, María P.; Real Jurado, Pedro; Barcena, Guillermo; Braza, Verónica; Guerrero Vázquez, Elisa; González, David; Galindo Riaño, Pedro Luis

doi:10.1007/978-3-030-10828-1_13

Ponencia

dc.creator	Molina Abril, Helena	es
dc.creator	Díaz del Río, Fernando	es
dc.creator	Guerrero Lebrero, María P.	es
dc.creator	Real Jurado, Pedro	es
dc.creator	Barcena, Guillermo	es
dc.creator	Braza, Verónica	es
dc.creator	Guerrero Vázquez, Elisa	es
dc.creator	González, David	es
dc.creator	Galindo Riaño, Pedro Luis	es
dc.date.accessioned	2020-02-26T11:30:05Z
dc.date.available	2020-02-26T11:30:05Z
dc.date.issued	2019
dc.identifier.citation	Molina Abril, H., Díaz del Río, F., Guerrero Lebrero, M.P., Real Jurado, P., Barcena, G., Braza, V.,...,Galindo Riaño, P.L. (2019). Topological Homogeneity for Electron Microscopy Images. En CTIC 2019 : 7th International Workshop on Computational Topology in Image Contex (166-178), Málaga, España: Springer.
dc.identifier.isbn	978-3-030-10827-4	es
dc.identifier.issn	0302-9743	es
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/11441/93662
dc.description.abstract	In this paper, the concept of homogeneity is defined, from a topological perspective, in order to analyze how uniform is the material composition in 2D electron microscopy images. Topological multiresolution parameters are taken into account to obtain better results than classical techniques.	es
dc.description.sponsorship	Ministerio de Economía y Competitividad MTM2016-81030-P	es
dc.description.sponsorship	Ministerio de Economía y Competitividad TEC2012-37868-C04-02	es
dc.format	application/pdf	es
dc.language.iso	eng	es
dc.publisher	Springer	es
dc.relation.ispartof	CTIC 2019 : 7th International Workshop on Computational Topology in Image Contex (2019), p 166-178
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.subject	Topology	es
dc.subject	Homogeneity	es
dc.subject	Electron microscopy	es
dc.subject	Images	es
dc.title	Topological Homogeneity for Electron Microscopy Images	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	es
dcterms.identifier	https://ror.org/03yxnpp24
dc.type.version	info:eu-repo/semantics/submittedVersion	es
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess	es
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Matemática Aplicada I (ETSII)	es
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Arquitectura y Tecnología de Computadores	es
dc.relation.projectID	MTM2016-81030-P	es
dc.relation.projectID	TEC2012-37868-C04-02	es
dc.relation.publisherversion	https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-10828-1_13	es
dc.identifier.doi	10.1007/978-3-030-10828-1_13	es
idus.format.extent	13	es
dc.publication.initialPage	166	es
dc.publication.endPage	178	es
dc.eventtitle	CTIC 2019 : 7th International Workshop on Computational Topology in Image Contex	es
dc.eventinstitution	Málaga, España	es
dc.relation.publicationplace	Cham, Switzerland	es

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Topological Homogeneity for ...	1.988Mb	[PDF]	Ver/Abrir

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