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Ponencia

dc.creatorBeltrán, Ana M.es
dc.creatorWinter, B.es
dc.creatorSpiecker, Erdmannes
dc.date.accessioned2018-01-24T13:04:06Z
dc.date.available2018-01-24T13:04:06Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationBeltrán, A.M., Winter, B. y Spiecker, E. (2013). STEM tomography and CBED polarity analysis of crystallographic pores in InP. En Microscopy Conference (412-413), Regensburg (Germany): EPrints 3.
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11441/69487
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isoenges
dc.publisherEPrints 3es
dc.relation.ispartofMicroscopy Conference (2013), pp. 412-413.
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/*
dc.subjectElectron tomographyes
dc.subjectPorous InPes
dc.titleSTEM tomography and CBED polarity analysis of crystallographic pores in InPes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dcterms.identifierhttps://ror.org/03yxnpp24
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transportees
dc.relation.publisherversionhttp://mc2013.uni-regensburg.de/245/es
dc.contributor.groupUniversidad de Sevilla. TEP123: Metalurgia e Ingeniería de los Materialeses
idus.format.extent2 p.es
dc.publication.initialPage412es
dc.publication.endPage413es
dc.eventtitleMicroscopy Conferencees
dc.eventinstitutionRegensburg (Germany)es
dc.relation.publicationplaceSouthamptones

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