EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices

Castro, Celia; Andreozzi, A.; Benassayag, G.; Beltrán, Ana M.; Seguini, G.; Perego, M.; Schamm-Chardon, Sylvie

Ponencia

dc.creator	Castro, Celia	es
dc.creator	Andreozzi, A.	es
dc.creator	Benassayag, G.	es
dc.creator	Beltrán, Ana M.	es
dc.creator	Seguini, G.	es
dc.creator	Perego, M.	es
dc.creator	Schamm-Chardon, Sylvie	es
dc.date.accessioned	2018-01-22T11:06:22Z
dc.date.available	2018-01-22T11:06:22Z
dc.date.issued	2012
dc.identifier.citation	Castro, C., Andreozzi, A., Benassayag, G., Beltrán, A.M., Seguini, G., Perego, M. y Schamm-Chardon, S. (2012). EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices. En 15th European Microscopy Conference Manchester (Gran Bretaña): The Royal Microscopical Society.
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/11441/69292
dc.description.abstract	We investigated for the first time the capabilities of combining Si NCs fabrication methods like e-beam evaporation and ULE-IBS with block copolymers nanostructured masks.	es
dc.format	application/pdf	es
dc.language.iso	eng	es
dc.publisher	The Royal Microscopical Society	es
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.subject	EFTEM	es
dc.subject	Non-volatile memories	es
dc.subject	Self-assembled block-copolymer	es
dc.subject	e-beam evaporation	es
dc.subject	ULE-IBS	es
dc.title	EFTEM studies on the localization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 for nano-devices	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	es
dcterms.identifier	https://ror.org/03yxnpp24
dc.type.version	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	es
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess	es
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte	es
dc.relation.publisherversion	http://www.emc2012.org.uk//documents/Abstracts/Abstracts/EMC2012_0886.pdf	es
dc.contributor.group	Universidad de Sevilla. TEP123: Metalurgia e Ingeniería de los Materiales	es
idus.format.extent	3 p.	es
dc.eventtitle	15th European Microscopy Conference	es
dc.eventinstitution	Manchester (Gran Bretaña)	es
dc.identifier.sisius	20453834	es

Ficheros	Tamaño	Formato	Ver	Descripción
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