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Ponencia

dc.creatorTorralba Silgado, Antonio Jesús es
dc.creatorChávez Orzaez, Jorge Jesús es
dc.creatorGarcía Franquelo, Leopoldo es
dc.date.accessioned2015-03-13T12:13:42Z
dc.date.available2015-03-13T12:13:42Z
dc.date.issued2009es
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11441/23471
dc.description.abstractPresentamos a continuación una herramienta para la detección y clasificación de faltas en circuitos analógicos a partir de un reducido conjunto de medidas. Se emplea una estructura formada por neuronas borrosas, que permite el reconocimiento de regiones de clasificación de forma arbitraria. Permitiendo la realización de tests tanto funcionales como paramétricos.es
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.relation.ispartofXXIV Design of Circuits and Integrated Systems, 291-295. Zaragoza : DCISen
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacionales
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/es
dc.titleDetección automática de faltas empleando lógica borrosaes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.contributor.affiliationUniversidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería Electrónicaes
dc.relation.publisherversion10.13140/2.1.5080.1607
dc.identifier.idushttps://idus.us.es/xmlui/handle/11441/23471

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