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Detección automática de faltas empleando lógica borrosa

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Autor: Torralba Silgado, Antonio Jesús
Chávez Orzaez, Jorge Jesús
García Franquelo, Leopoldo
Departamento: Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería Electrónica
Fecha: 2009
Publicado en: XXIV Design of Circuits and Integrated Systems, 291-295. Zaragoza : DCIS
Tipo de documento: Ponencia
Resumen: Presentamos a continuación una herramienta para la detección y clasificación de faltas en circuitos analógicos a partir de un reducido conjunto de medidas. Se emplea una estructura formada por neuronas borrosas, que permite el reconocimiento de regiones de clasificación de forma arbitraria. Permitiendo la realización de tests tanto funcionales como paramétricos.
Tamaño: 1.400Mb
Formato: PDF

URI: http://hdl.handle.net/11441/23471

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