Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos

dc.contributor.advisor	Rueda Rueda, Adoración	es
dc.contributor.advisor	Huertas Díaz, José Luis	es
dc.creator	Vázquez García de la Vega, Diego	es
dc.date.accessioned	2014-11-27T12:01:43Z
dc.date.available	2014-11-27T12:01:43Z
dc.date.issued	1995	es
dc.identifier.citation	Vázquez García de la Vega, D. (1995). Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla.
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11441/15705
dc.format	application/pdf	es
dc.language.iso	spa	es
dc.rights	Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subject	Cálculo tolerante a fallos	es
dc.subject	Circuitos electrónicos	es
dc.title	Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/doctoralThesis	es
dcterms.identifier	https://ror.org/03yxnpp24
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo	es
dc.contributor.affiliation	Universidad de Sevilla. Departamento de Contabilidad y Economía Financiera	es
idus.format.extent	273 p.	es
dc.identifier.idus	https://idus.us.es/xmlui/handle/11441/15705

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H_T.S.-122.pdf	10.97Mb	[PDF]	Ver/Abrir

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