Listar Artículos (Electrónica y Electromagnetismo) por materia 

ListarArtículos (Electrónica y Electromagnetismo) por materia "negative BTI (NBTI)"

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      A versatile CMOS transistor array IC for the statistical characterization of time-zero variability, RTN, BTI, and HCI 

      Díaz Fortuny, Javier; Martín Martínez, Javier; Rodríguez Martínez, Rosana; Castro López, Rafael; Roca Moreno, Elisenda; Fernández Fernández, Francisco Vidal; Aragonès Cervera, Xavier; Barajas Ojeda, Enrique; Mateo Peña, Diego; Nafría Maqueda, Montserrat (Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019)
      Statistical characterization of CMOS transistor variability phenomena in modern nanometer technologies is key for accurate ...