Muñoz Chavero, FernandoHinojo Montero, José MaríaJiménez Sánchez, JorgePérez Pérez, Esperanza2024-12-172024-12-172024Pérez Pérez, E. (2024). Diseño de vehículo de test para caracterización de Single-Event Upsets en Cubesat. (Trabajo Fin de Grado Inédito). Universidad de Sevilla, Sevilla.https://hdl.handle.net/11441/165903Enestedocumentosequierecaracterizarelefectodelaradiaciónsobrecomponenteselectrónicosdiseñados para misiones espaciales. Concretamente, se centrará en los efectos de radiación denominados Single Event Upsets sobre componentes incorporados en CubeSat. Para ello, se ha construido un vehículo de test formado por memoria y microcontrolador, que simulará el comportamiento de estos componentes frente a SEE Upsets. Mediante un procedimiento de escritura, lectura y verificación de datos, se puede identificar cuando ocurre un SEUyestimar la probabilidad de que se produzca un error en el sistema integrado en el CubeSat. La implementación de estos pasos en una aplicación específica, permite medir los niveles de radiación a los que están expuestos los componentes en el espacio, así como comprobar la fiabilidad de los componentes seleccionados.Thepurpose of this document is to describe and evaluate the radiation effects that may cause an error in CubeSat technology through its mission. The main focus is on Single Event Upsets effects. To achieve this, it has been necessary to elaborate a device under test (DUT) with a memory and a micro-controller. The device will go through a writing and reading process which enable us to determine when a SEU occurs, as well as estimate the error probability of this part. This application will help define the levels of radiation to wich the electronics are subjected to or even determining if the selected parts are suitable to its mission, along with confirming its reliability.application/pdf89 p.spaAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internationalhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/info:eu-repo/semantics/bachelorThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccess