Madurga Lacalle, Gonzalo2014-11-272014-11-271986Respaldiza Galisteo, M.Á. (1986). Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla.http://hdl.handle.net/11441/15760El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo por el método de Pixe (Particle Induced X-Ray Emission). Después de revisar el conocimiento actual del proceso de producción de rayos X y la bibliografía relativa a las fuentes de datos necesarios para el análisis se ha descrito el instrumental utilizado dedicando especial atención a algunos aspectos de optimización. Se ha estudiado en profundidad las dificultades que se presentan al determinar la concentración de si de aleaciones al/si debido al agrupamiento en granos de dicho elemento proponiéndose una estrategia simple basada en un estudio teórico mediante un modelo sencillo consistente en el análisis a dos energías diferentes de los protones y que permite obtener resultados aceptables de dichas concentraciones. Se han analizado los elementos traza de cristales de Omg y Be dedicándose especial atención a determinar las condiciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones de PPM.application/pdfspaAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Españahttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/Espectroscopia de rayos xinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccesshttps://idus.us.es/xmlui/handle/11441/15760