Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos

Universidad de SevillaCarballar Rincón, AlejandroJaner Jiménez, Carlos2022-11-042022-11-042013-05-28https://hdl.handle.net/11441/138871Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz (101, 401, 501), un montaje intereroapplication/pdfspaAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacionalhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicosinfo:eu-repo/semantics/patentinfo:eu-repo/semantics/openAccessES2404673B2