root.skip-to-content
Comunidades
Todo idUS
Estadísticas
Sobre idUS
Español
English
Iniciar sesión
Iniciar sesión
¿Nuevo Usuario? Regístrate.
¿Has olvidado tu contraseña?
Inicio
Investigación
Ciencias
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) – CIC Cartuja
Artículos (Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) – CIC Cartuja)
Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) investigations of Ti bonding environment in sputter-deposited nanocomposite TiBC/a-C thin films
