Mostrar el registro sencillo del ítem
Tesis Doctoral
El impacto social de la tecnología: Microelectrónica y trabajo
dc.contributor.advisor | Martin Armario, Enrique | es |
dc.creator | Galán González, José Luis | es |
dc.date.accessioned | 2019-09-23T16:18:50Z | |
dc.date.available | 2019-09-23T16:18:50Z | |
dc.date.issued | 1987-06-11 | |
dc.identifier.citation | Galán González, J.L. (1987). El impacto social de la tecnología: Microelectrónica y trabajo. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11441/89281 | |
dc.description.abstract | En el presente trabajo se pretende analizar las caracteristicas y la difusion alcanzada por la tecnologia microelectronica asi como sus aplicaciones en la empresa y sistemas productivos en general. Igualmente se analiza el impacto de esta tecnologia sobre el empleo y sobre el contenido del trabajo prestando especial atencion a la posibilidad de aparicionde desempleo tecnologico y a las potencialidades que esta tecnologia ofrece parael desarrollo futuro. | es |
dc.format | application/pdf | es |
dc.language.iso | spa | es |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | * |
dc.title | El impacto social de la tecnología: Microelectrónica y trabajo | es |
dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | es |
dcterms.identifier | https://ror.org/03yxnpp24 | |
dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | es |
dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es |
dc.contributor.affiliation | Universidad de Sevilla. Departamento de Administración de Empresas y Comercialización e Investigación de Mercados | es |
idus.format.extent | 433 p.+ 483 p.+ 589 p. | es |
Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
---|---|---|---|---|
Galán González, Jose Luis_T. I.pdf | 341.3Mb | [PDF] | Ver/ | |
Galán González, Jose Luis_T. II.pdf | 373.5Mb | [PDF] | Ver/ | |
Galán González, Jose Luis_T. ... | 437.0Mb | [PDF] | Ver/ | |