Tesis Doctoral
Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos
| Autor/es | Vázquez García de la Vega, Diego
 |
| Director | Rueda Rueda, Adoración
Huertas Díaz, José Luis |
| Departamento | Universidad de Sevilla. Departamento de Electrónica y Electromagnetismo Universidad de Sevilla. Departamento de Contabilidad y Economía Financiera |
| Fecha de publicación | 1995 |
| Fecha de depósito | 2014-11-27 |
| Cita | Vázquez García de la Vega, D. (1995). Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. |
| Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
|---|---|---|---|---|
| H_T.S.-122.pdf | 10.97Mb | 
[PDF]
| Ver/ | |
http://hdl.handle.net/11441/15705Este registro aparece en las siguientes colecciones
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como: Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España