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Tesis Doctoral
Tesis Doctoral
Tests digitales para moduladores sigma-delta
(2007-03-19)
Tesis Doctoral
Degradación del retraso de propagación en puertas lógicas CMOS VLSI
(2000-10-20)
La evolución en la tecnología de circuitos VLSI da lugar, entre otras cosas, a un aumento en la escala de integración causado por dos factores. Por una parte, la reducción en las dimensiones mínimas de los transistores y, ...