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Tesis Doctoral
Computer Integrated Manufacturing in Semiconductor Industry. Automation, Electronic Wafer Mapping, Defect Reduction and Equipment Utilization Improvement in Probe and Final Test
| dc.contributor.advisor | Cuesta Rojo, Federico | es |
| dc.creator | Moreno Lizaranzu, Manuel José | es |
| dc.date.accessioned | 2014-11-27T11:46:58Z | |
| dc.date.available | 2014-11-27T11:46:58Z | |
| dc.date.issued | 2012 | es |
| dc.identifier.citation | Moreno Lizaranzu, M.J. (2012). Computer Integrated Manufacturing in Semiconductor Industry. Automation, Electronic Wafer Mapping, Defect Reduction and Equipment Utilization Improvement in Probe and Final Test. (Tesis Doctoral Inédita). Universidad de Sevilla, Sevilla. | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11441/15246 | |
| dc.description.abstract | La industria de semiconductores presenta arduos problemas en ... Dispositivos para la industria del automóvil y médica deben tener una tasa de defectos muy baja. Pruebas eléctricas e inspecciones visuales se aplican para detectar dispositivos defectuosos | es |
| dc.format | application/pdf | es |
| dc.language.iso | eng | es |
| dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España | |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | |
| dc.subject | Ingeniería de sistemas | es |
| dc.subject | Semiconductores | es |
| dc.title | Computer Integrated Manufacturing in Semiconductor Industry. Automation, Electronic Wafer Mapping, Defect Reduction and Equipment Utilization Improvement in Probe and Final Test | es |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | es |
| dcterms.identifier | https://ror.org/03yxnpp24 | |
| dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.contributor.affiliation | Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería de Sistemas y Automática | es |
| idus.format.extent | 144 p. | es |
| dc.identifier.idus | https://idus.us.es/xmlui/handle/11441/15246 |
| Ficheros | Tamaño | Formato | Ver | Descripción |
|---|---|---|---|---|
| D_T.PROV28.pdf | 6.840Mb | 
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